0Cr18Ni9脱乙烷塔封头裂纹产生原因分析

戴志强，边勇俊，滑鹏敏，刘志刚

物理测试 ›› 2017, Vol. 35 ›› Issue (1) : 45-48.

物理测试 ›› 2017, Vol. 35 ›› Issue (1) : 45-48. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1001-0777.20160076
缺陷分析

0Cr18Ni9脱乙烷塔封头裂纹产生原因分析

  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Cause analysis of the crack on the 0Cr18Ni9 deethanizer head

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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2017, 35(1): 45-48 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1001-0777.20160076
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2017, 35(1): 45-48 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1001-0777.20160076
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{{article.reference}}

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